Mittalaitteiden kalibrointia

Mittavälineiden kalibrointi – turhaako?

Tuotelaatuun vaikuttavat osat tai komponentit täytyy tarkistaa ja samalla varmistaa niiden oikeellisuus ja sopivuus tyypillisesti mm. mittaamalla osana valmistusprosessia. Tilastollinen prosessin ohjaus (SPC) perustuu täysin saatuihin mittaustuloksiin ja niiden virheellisyys tai epäluotettavuus ohjaa prosessia virheellisesti. Mittavälineiden kalibroinnin tarkoituksena on hallita paremmin tuotteen tai siihen tulevien komponenttien tai osien laadun toteamiseen käytettävien välineiden ja laitteiden tuottaman…

Jatka lukemista
Busines mies ja laatu teksti

Väärinymmärretyt laatukustannukset – hyödyntämätön voimavara kehittämisessä

Laatukustannukset ymmärretään yleensä pelkiksi virhekustannuksiksi eli negatiivisiksi kustannuksiksi. Mikäli asiaa lähestyttäisiin kokonaisvaltaisemmasta näkökulmasta, hyöty olisi ilmeinen. Laatukustannusten virhekustannusosuus määritellään kustannuksiksi, jotka häviäisivät, jos kaikki tehtäisiin ensimmäisellä kerralla oikein. Niiden suuruus on luokkaa 20-40 % yrityksen myynnistä. Palvelualoilla tyypillisesti suurempi kuin valmistavassa teollisuudessa ja erityisesti sarjavalmistuksessa voi olla hyvinkin pieni (muutamia prosentteja). Tässä on suuri kehityspotentiaali,…

Jatka lukemista

Keski-Suomesta ALD -landia?

Jyväskylän ammattikorkeakoulussa päättyi keväällä ohutkalvojen kokeelliseen ja soveltavaan tutkimukseen keskittynyt Teollisesti Funktionaaliset pinnat -hanke (TFP). Tieteellisellä ohutkalvotutkimuksella on Suomalaisessa yliopistokentässä pitkät perinteet.  Kansainvälisesti arvostettua ohutkalvotutkimusta on tehty mm. Helsingin yliopistossa, Teknillisessä Korkeakoulussa (Aalto yliopistossa) sekä Jyväskylän yliopistossa. Ammattikorkeakoulusektorilla soveltavaa ohutkalvotutkimusta on tehty varsin vähän. Erityisesti Millenium – palkitun atomikerroskasvatusteknologian (ALD) kehitys on nostanut ohutkalvotekniikan sovellettavuuden…

Jatka lukemista